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手持式液晶顯示四探針測試儀 導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣材料常溫及高溫等環(huán)境下電性能分析.

200高溫三環(huán)電極表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等.

200導(dǎo)體材料四端測量高溫電阻率測試儀運(yùn)用四端測量方法測試材料電阻、電導(dǎo)率和電阻率，并配合高溫箱結(jié)合高溫治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對溫度變化測量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.具有氣氛保護(hù)功能.

200導(dǎo)體材料四端測量高溫電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

1200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對溫度變化測量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.

1000高溫四探針雙電組合電阻率測試儀采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對溫度變化測量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.